局部放電檢測(cè)儀的技術(shù)性能和操作事項(xiàng)

      局部放電檢測(cè)儀采用先進(jìn)的抗干擾組件和*的門顯示電路,抗干擾能力強(qiáng),并具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試。可供制造廠、科研部門、電力部門現(xiàn)場(chǎng)使用。

技術(shù)參數(shù)：

1、適用范圍：采用非侵入式檢測(cè)方式，對(duì)高壓電氣設(shè)備的局部放電缺陷進(jìn)行檢測(cè)及定位。

2、傳感器配置

標(biāo)配：超聲波傳感器(UA)、地電波傳感器(TEV)

選配：變壓器傳感器、GIS特高頻傳感器、高頻互感器，也可根據(jù)用戶要求定制。

3、檢測(cè)原理：超聲波法(UA)、地電波法(TEV)及特高頻法(UHF)。

4、檢測(cè)頻帶：超聲波: 40～200KHz、地電波: 3~100MHz、特高頻: 300~2000MHz

5、測(cè)量范圍：

超聲波： -90～80dB

地電波： -80～10dBm

特高頻： -80～10dBm

6、靈敏度：小10pC(具體取決于傳感器與放電源之間的距離)。

7、傳感器：

① 超聲波傳感器：20～200(kHz);

② 地電波(TEV)：3 ~ 100MHz。

③ 特高頻傳感器：300～2000(MHz)，具備定向接收特性;

8、具有內(nèi)置超聲傳感器，地電波、超聲波二合一傳感器，可選變壓器傳感器、GIS傳感器、高頻互感器等部件;

9、軟件功能：

① 連續(xù)檢測(cè)特高頻、地電波及超聲波信號(hào)，判斷是否存在局部放電;

② 實(shí)時(shí)顯示被測(cè)信號(hào)的變化趨勢(shì)、可對(duì)局部放電信號(hào)的發(fā)展作出較為直觀的判斷;

③ 具備數(shù)據(jù)的現(xiàn)場(chǎng)存儲(chǔ)功能。

10、儀器特征：

① 屏幕顯示：高對(duì)比度 3.5 英寸TFT彩屏。

② 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：可保存 1000 組測(cè)試數(shù)據(jù)。

③ 工作電源：內(nèi)置 8.4V 鋰電池，可連續(xù)工作 8 小時(shí)。

④ 電源：輸入100-240VAC，輸出8.4V/3A，充電時(shí)間3～4小時(shí)。

⑤ 外形尺寸：230 * 120 * 55(mm)。

⑥ 儀器重量：0.7kg。

⑦ 使用溫度：-25℃～45℃。

⑧ 存儲(chǔ)溫度：-35℃～60℃。

11、成套配置：主機(jī)、傳感器、交流適配器、連接電纜及運(yùn)輸箱。

使用注意事項(xiàng):

1.局部放電檢測(cè)儀在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。

2.對(duì)于連接線應(yīng)避免將暴露在外，防止電暈放電，尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場(chǎng)強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3.一般情況下，在試驗(yàn)過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測(cè)量值。

4.校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之，順時(shí)針時(shí)，量程縮小十倍。

5.局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。